現(xiàn)在可以輕松選擇適合您應(yīng)用的RAIN讀寫器
在當(dāng)前的RFID市場中, 選擇與RFID應(yīng)用程序兼容的RAIN讀寫器通常是一個(gè)令人精疲力盡的 "反復(fù)試驗(yàn)" 過程。花了幾天的時(shí)間來了解讀寫器的靈敏度, 并經(jīng)常用標(biāo)簽來衡量。在大多數(shù)情況下, 唯一考慮的參數(shù)是讀取器的發(fā)射功率。此選擇過程非常耗時(shí), 不可重復(fù), 并且容易出錯(cuò)，這些數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性也可能有所不同。
CISC RFID Xplorer--我們的高精度RFID測試儀器 (用于測量RAIN標(biāo)簽、讀取器和應(yīng)用的性能和規(guī)范性) 最近在讀寫器測試方面推出了新功能。我們的系統(tǒng)配備了內(nèi)置的標(biāo)簽仿真器, 它可以準(zhǔn)確地測量標(biāo)簽的發(fā)射功率, 并記錄各種讀寫器設(shè)置, 并根據(jù)不同的影響因素 (如相移和反向鏈路) 確定讀寫器的靈敏度頻率 (BLF)。
另外這個(gè)RFID Xplorer可以:用于測試RAIN讀寫器的性能及規(guī)范性
用于在研發(fā)階段驗(yàn)證和開發(fā)讀寫器芯片
用于分析RAIN標(biāo)簽和RAIN讀寫器之間的通信來調(diào)試應(yīng)用設(shè)置
集成到生產(chǎn)線用于驗(yàn)證生產(chǎn)過程中RAIN讀寫器的性能
Xplorer現(xiàn)在可以測試所有標(biāo)簽響應(yīng)事件的信號(hào)相位對(duì)RAIN讀寫器靈敏度的影響，Xplorer通過其相位掃描測量功能, 可以根據(jù)接收到的信號(hào)的相位清楚地評(píng)估讀取器靈敏度的變化。
