CISC擴(kuò)展了增加多通道新功能的Xplorer Inline產(chǎn)品，用于并行RAIN或NFC標(biāo)簽的高速生產(chǎn)測試，更容易地找出性能較弱的標(biāo)簽。
CISC的NFC和RAIN Xplorer Inline的多通道新功能正面臨著標(biāo)簽生產(chǎn)商，在生產(chǎn)過程中不降低任何速度又保證多通道品質(zhì)的挑戰(zhàn)。它允許一臺控制計算機(jī)并行使用和控制多達(dá)4個Xplorer Inline設(shè)備。所有通道的自動性能測量和報告生成無需切換通道。使用更多的計算機(jī)(或交換機(jī))，可進(jìn)行12通道產(chǎn)品的全面測試。每個設(shè)備的測試通過和失敗信息是分開的。多個測試點定義允許對不同功率水平的雙頻標(biāo)簽測試，將100k UPH的高速性能測試提高4倍。
了解更多關(guān)于我們的產(chǎn)品組合在生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證:
NFC Xplorer Inline https://www.cisc.at/product/nfc-xplorer-inline/
RAIN Xplorer Inline https://www.cisc.at/product/rain-xplorer-inline/
