QCA 電采樣示波器（眼圖儀）
- 類別：眼圖分析儀 - 品牌：唐領(lǐng)科技
QCA系列高速通信分析儀是一種具有高質(zhì)量精密時(shí)基和低抖動(dòng)模式的數(shù)字等效時(shí)間采樣示波器，旨在為下一代高速互連和高密度ASIC提供一種高效、成本效益高且可擴(kuò)展的測試解決方案。憑借超低抖動(dòng)性能和無與倫比的儀器密度，QCA系列非常適合在高產(chǎn)量制造應(yīng)用中并行進(jìn)行高精度測量，以優(yōu)化測試吞吐量并降低測試成本。有32GHz及50GHz帶寬版本，支持26GBD, 32GBD, 53Gbd, 64Gbd PAM4等典型速率信號(hào)，有單通道及雙通道可選。
下一代高速互連以及新型、高密度的處理、計(jì)算和交換ASIC在超大規(guī)模數(shù)據(jù)中心以及新興的高性能計(jì)算（HPC）和人工智能（AI）應(yīng)用的推廣中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。這些下一代設(shè)備將包含數(shù)百個(gè)通道，每個(gè)通道都需要在開發(fā)、驗(yàn)證和制造的所有階段進(jìn)行測試。
這一發(fā)展為測試工程師帶來了一套新的挑戰(zhàn)：如何在滿足顯著增加的測試需求的同時(shí)管理測試成本？高度集成技術(shù)的故障點(diǎn)被壓縮——因此跳過測試不是一個(gè)可行的選擇。所有通道都需要經(jīng)過驗(yàn)證，以確保它們符合規(guī)格。
高速示波器已用于測試發(fā)射機(jī)數(shù)十年，經(jīng)過驗(yàn)證的眼圖和由此衍生的分析（如TDECQ）仍然是主要的性能測量手段，仍然是當(dāng)今設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和制造鏈中的瓶頸。在高波特率下，當(dāng)抖動(dòng)與幅度（或信號(hào)）噪聲、有限帶寬以及多電平信號(hào)（如PAM4）結(jié)合時(shí)，時(shí)序偏差和信號(hào)完整性會(huì)呈指數(shù)級(jí)惡化，如果抖動(dòng)得不到控制，將無法實(shí)現(xiàn)無誤碼傳輸。
為了能夠正確表征高速接口的質(zhì)量，測試儀器的抖動(dòng)噪聲底必須足夠低，以便能夠測量被測設(shè)備的抖動(dòng)。同樣重要的是，測量設(shè)備能夠跟蹤高速信號(hào)中嵌入時(shí)鐘的低頻變化。在依賴接收端數(shù)字信號(hào)處理或其他先進(jìn)信號(hào)格式的鏈路技術(shù)中，所謂的時(shí)鐘漂移是典型的。
因此，超低抖動(dòng)噪聲底和基于PLL的低頻時(shí)鐘相位跟蹤對(duì)于提供精確測量條件是必不可少的，以實(shí)現(xiàn)對(duì)100G每通道及以上高速IO接口的準(zhǔn)確和可重復(fù)表征。
應(yīng)用
抖動(dòng)和眼圖測試適用于以下領(lǐng)域：
交換機(jī)ASIC
GPU/CPUs
AI/ML處理IC
PAM4 DSPs
中繼器/擴(kuò)展器IC
其他高速IC，例如：DACs、TIAs和驅(qū)動(dòng)器
電高速IO驗(yàn)證
高速IC的高量產(chǎn)測試
驗(yàn)證測試
量產(chǎn)前測試
緊湊設(shè)計(jì)QCA-1000系列特點(diǎn)
能夠在相對(duì)較小的占地面積內(nèi)提供高密度、高通道數(shù)量的測試解決方案。
可擴(kuò)展性該設(shè)計(jì)旨在滿足高通道數(shù)量驗(yàn)證以及高產(chǎn)量制造和測試的要求。
易于集成小尺寸、遠(yuǎn)程控制和API使得其能夠輕松集成到探測和組裝設(shè)備中。
測試成本提高測試效率和測試吞吐量可以降低測試成本，并加速產(chǎn)品上市時(shí)間。
精確性能與價(jià)格昂貴的研發(fā)設(shè)備相比，具有相似的功能集和預(yù)測價(jià)值（相關(guān)性）。
VISEYE?信號(hào)分析軟件新設(shè)計(jì)的可視化和分析軟件具有強(qiáng)大的分析能力，且直觀易用。
低抖動(dòng)高質(zhì)量的精密時(shí)基和低抖動(dòng)模式提供了超低抖動(dòng)噪聲底和基于PLL的低頻時(shí)鐘相位跟蹤，能夠精確測量和表征高波特率IO接口。
技術(shù)參數(shù)
