隨著人工智能（AI）和物聯(lián)網(wǎng)（IoT）技術(shù)的迅猛發(fā)展，兩者的融合日益緊密，正深刻影響著各行各業(yè)的技術(shù)革新。AGIC + IOTE 2025將呈現(xiàn)一場(chǎng)規(guī)模空前的AI與IoT專(zhuān)業(yè)展覽盛會(huì)，展覽規(guī)模將擴(kuò)大至8萬(wàn)平方米，聚焦“AI+IoT”技術(shù)的前沿進(jìn)展和實(shí)際應(yīng)用，深入探討這些技術(shù)如何重塑我們的未來(lái)世界。預(yù)計(jì)將有超過(guò)1000家行業(yè)先鋒企業(yè)參與，展出他們?cè)谥腔鄢鞘薪ㄔO(shè)、工業(yè)4.0、智能家居生活、智能物流系統(tǒng)、智能設(shè)備以及數(shù)字化生態(tài)解決方案等方面的創(chuàng)新成就。
當(dāng)下，行業(yè)趨勢(shì)瞬息萬(wàn)變，把握機(jī)遇、尋求合作至關(guān)重要。在此，誠(chéng)邀您參加2025年8月27-29日在深圳國(guó)際會(huì)展中心（寶安新館）舉辦的IOTE 2025第24屆國(guó)際物聯(lián)網(wǎng)展?深圳站。屆時(shí)，歡迎前往深圳國(guó)際會(huì)展中心（寶安館）9號(hào)館A19-2展位，與我們一同探討行業(yè)前沿趨勢(shì)、發(fā)展方向，探尋合作機(jī)會(huì)，靜候您的光臨！
CISC RAIN Xplorer Inline
CISC RAIN Inline Xplorer ：生產(chǎn)線 RFID Inlay和標(biāo)簽的高速測(cè)試、編碼和加密設(shè)備。可集成到任何生產(chǎn)線。
1、主要優(yōu)點(diǎn)
1）在生產(chǎn)線對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行高速性能測(cè)試，提供 GPIO 用于外部觸發(fā)，API 用于完全自動(dòng)化，壞標(biāo)弱標(biāo)標(biāo)記選項(xiàng)；
2）不降低或限制生產(chǎn)速度
3）支持多個(gè)測(cè)試點(diǎn)
4）支持多通道測(cè)試
2、主要特點(diǎn)
1）測(cè)試頻率從 800 MHz至1 GHz
2）發(fā)射功率范圍從-10dBm到28dBm
3）靈敏度-80dBm
4）讀取EPC、TID和存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)
5）寫(xiě)入EPC和存儲(chǔ)區(qū)數(shù)據(jù)（編碼寫(xiě)碼）
6）測(cè)量標(biāo)簽在不同頻率下的靈敏度
7）單次讀取EPC的測(cè)試時(shí)間起始為6毫秒
8）集成SAM（安全訪問(wèn)模塊）
CISC NFC Xplorer Inline
NFC Xplorer Inline：生產(chǎn)線中 NFC Inlay 和標(biāo)簽的高速測(cè)試、編碼和加密設(shè)備。可集成到任何生產(chǎn)線。
主要優(yōu)點(diǎn)
1、在生產(chǎn)線對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行高速性能測(cè)試
2、不降低或限制生產(chǎn)速度
3、支持多個(gè)測(cè)試點(diǎn)
4、支持多通道測(cè)試
主要特點(diǎn)
1、可變 H 場(chǎng)強(qiáng)度
2、完全支持 1 到 6 類(lèi)標(biāo)簽
3、支持讀寫(xiě)模式，用于編碼和個(gè)性化
4、提供 GPIO 用于外部觸發(fā)，API 用于完全自動(dòng)化，壞標(biāo)弱標(biāo)標(biāo)記選項(xiàng)；
5、支持 ISO/IEC 14443 A+B 和 15693 標(biāo)準(zhǔn)
6、測(cè)試速度可達(dá)每小時(shí) 10 萬(wàn)件
CISC RAIN Xplorer
RAID Xplorer：用于測(cè)量RFID Inlay、標(biāo)簽、讀寫(xiě)器的性能和一致性；RFID標(biāo)簽芯片規(guī)范性測(cè)試。嗅探功能可監(jiān)聽(tīng)讀寫(xiě)器和標(biāo)簽之間的通信
1、標(biāo)簽性能測(cè)試、規(guī)范性測(cè)試
1）標(biāo)簽喚醒、反向功率及距離測(cè)試
2）標(biāo)簽方向靈敏度測(cè)試
3）標(biāo)簽反向曲線測(cè)試
4）標(biāo)簽數(shù)據(jù)解碼、指令時(shí)序、功率及占空比測(cè)量
5）ISO/IEC29167加密套件規(guī)范性等功能
6）支持SINIAV、ARTESP及Brasil-ID協(xié)議
2、讀寫(xiě)器性能測(cè)試、規(guī)范測(cè)試
1）Tx VS Rx靈敏度、BLF VS Rx靈敏度測(cè)量。
2）接收靈敏度穩(wěn)定性監(jiān)控
3）相位及阻抗變化對(duì)接收靈敏度的影響測(cè)量
4）真實(shí)反映讀寫(xiě)器與標(biāo)簽之間的通信
5）通過(guò)標(biāo)簽仿真模塊監(jiān)控場(chǎng)強(qiáng)
6）讀寫(xiě)器規(guī)范性測(cè)試
NFC Xplorer
測(cè)量 NFC 標(biāo)簽的性能和一致性的 NFC 實(shí)驗(yàn)室測(cè)試儀器，NFC讀寫(xiě)器可通過(guò)嗅探器功能進(jìn)行測(cè)試。
主要特點(diǎn)：
1、高精度
2、快速且易于使用的圖形用戶界面
3、支持多種協(xié)議
4、標(biāo)準(zhǔn)和用戶自定義命令
測(cè)試模式 ：
1、標(biāo)簽性能和一致性
2、讀寫(xiě)器--標(biāo)簽通信和射頻信號(hào)分析
支持的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議
1、通信協(xié)議
ISO/IEC 14443 A
ISO/IEC 14443 B
ISO/IEC 15693,
ISO/IEC 18000-3M1
ISO 18092 NFC
2、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
ISO/IEC 10373-6
ISO/IEC 10373-7
